SciAps X-200 XRF-analysaattori, markkinoiden paras hinta/suorituskyky
X-200 XRF-analysaattori – todellinen työjuhta
X-200 XRF-analysaattori on täydellinen sekoitus korkean luokan suorituskykyä ja kilpailukykyistä hintaa.
X-200 tarjoaa nopeuden ja suorituskyvyn, joka on verrattavissa tai jopa parempi kuin muiden merkkien huipputason analysaattorit. Se käyttää erittäin tehokasta SDD:tä yhdistettynä tarkasti optimoituun röntgenputken ja ilmaisimen yhdistelmään.
X-200:sta on nopeasti tullut halutuin valinta romun käsittelyyn ja rikkomattomaan testaukseen sen nopeuden ja analyyttisen suorituskyvyn sekä kevyen ja pienikokoisen rakenteen ansiosta. Se on nopea kaikissa seosperheissä, mukaan lukien alumiiniseokset.
Geokemiallisiin sovelluksiin se tarjoaa elementtejä ympäristöanalyyseihin ja kaivostoimintaan. Muita saatavilla olevia sovelluksia ovat maaperä, RoHS, jalometallit, autokatalyytit ja pinnoitteet sekä SciAps Empirical App käyttäjille, jotka haluavat testata muun tyyppisiä materiaaleja ja luoda omia kalibrointimallejaan. Analysaattorit voidaan kalibroida tehtaalla perusparametreilla, Comptonin normalisoinnilla (EPA-menetelmä 6200) tai käyttäjän määrittämillä empiirisillä kalibroinneilla.
Teknisiä tietoja:
Röntgenputki: 40 kV, Rh-anodi (seos) tai 50 kV Au-anodi (geokemia, maaperä, RoHS, muut).
Tunnistusnopeus: 20 mm2 vakio SDD ja DPP. 125 000 cps, > 90 % livenä.
Lue lisää nopeasta ja suorituskykyisestä XRF-analysaattorista täältä »